Тестирование софта - статьи

       

Типы тестовых ситуаций для подсистемы управления памятью


Под тестовой ситуацией для инструкции понимается ограничение на значения входных операндов и состояние микропроцессора перед началом выполнения инструкции. Множество возможных тестовых ситуаций выявляется на основе анализа описания архитектуры микропроцессора.

При тестировании MMU структура тестовых ситуаций определяется функциональностью подсистемы, связанной с обработкой запросов к памяти. Например, на первом этапе обработки определяется сегмент адресного пространства, к которому относится виртуальный адрес: если сегмент является отображаемым, трансляция адреса осуществляется с помощью TLB; в противном случае, вычисление физического адреса производится в обход буфера трансляции адресов. Для данного этапа определены две тестовые ситуации: Mapped = true и Mapped = false. Далее, если виртуальный адрес является отображаемым, возможны две альтернативные ситуации: TLBHit = true, когда страница виртуальной памяти находится в TLB (попадание), и TLBHit = false, когда страницы в буфере нет (промах). Выделение ситуаций можно продолжить до тех пор, пока данные из памяти не будут загружены в регистр или, наоборот, сохранены из регистра в память (в зависимости от операции).

Для подсистемы управления памятью можно выделить следующие типы элементарных ситуаций (ситуаций для отдельных этапов обработки), на основе композиций которых строятся результирующие тестовые ситуации:

  • Mapped — отображаемый/неотображаемый сегмент виртуальной памяти;
  • Cached — кэшируемый/некэшируемый сегмент виртуальной памяти;
  • TLBHit — попадание/промах в TLB;
  • Valid — бит достоверности секции TLB;
  • L1Hit — попадание/промах в кэш-память L1;
  • L2Hit — попадание/промах в кэш-память L2.

На рисунке 1 элементарные ситуации структурированы в виде дерева (пунктирная дуга соответствует значению false, сплошная — значению true). Результирующая тестовая ситуация для инструкции соответствует пути от корня до листовой вершины.


Рисунок 1. Иерархии тестовых ситуаций

Отметим, что выделение тестовых ситуаций можно проводить на разных уровнях абстракции, например, тестовую ситуацию, связанную с промахом или попаданием в буфер трансляции адресов в MIPS64-совместимом микропроцессоре, можно детализировать на основе выражения, вычисляющего признак попадания в строку TLB : (TLB[i]R = va63..62) and
((TLB[i]VPN2 and not (TLB[i]Mask)) = (vaSEGBITS-1..13 and not (TLB[i]Mask))) and
(TLB[i]G or (TLB[i]ASID = EntryHiASID))

Уровень детализации может быть разным. При тщательном тестировании рассматриваются все комбинации значений истинности элементарных условий (exclusive condition coverage) или только те комбинации, когда значение истинности одного условия влияет на значение истинности всего выражения (MC/DC, Modified Condition/Decision Coverage) .

Содержание раздела