Тестирование подсистемы управления памятью
Подсистема управления памятью современного микропроцессора имеет очень сложную организацию, что существенно затрудняет ее ручное тестирование. Эффективная проверка MMU возможна только при использовании методов автоматизации разработки тестов.
Одним из наиболее распространенных способов тестирования микропроцессоров и их подсистем является прогон так называемых тестовых программ, то есть программ специально разработанных для целей тестирования. В процессе выполнения тестовые программы создают разнообразные ситуации в работе микропроцессора, результаты выполнения программ протоколируются и используются для анализа правильности функционирования микропроцессора.
Данная работа посвящена автоматизации генерации тестовых программ, предназначенных для функционального тестирования подсистемы управления памятью.
